LEIS ist eine neue und hochempfindliche Technik zur Oberflächencharakterisierung. Diese ermöglicht die Bestimmung der äußersten atomaren Schicht von Materialien, wobei die Elementzusammensetzung extrem genau Genauigkeit quantifiziert werden kann. In Verbindung mit Präzisionssputtern kann LEIS darüber hinaus Querschnitte und Schicht-für-Schicht-Analysen liefern. Dies ist für verschiedenste Anwendungen und Materialuntersuchungen in z.B. Halbleiterindustrie, Korrosion oder Katalyse hochinteressant und kann seit diesem Jahr am CEST durchgeführt werden.

Weltweit gibt es derzeit knapp 20 derartige Analysengeräte, wobei am CEST das einzige Gerät Österreichs steht, welches auch bereits großartige Ergebnisse in unseren Projekten liefert. Diese neue Technik, sowie unser Gerät stehen selbstverständlich all unseren Partnern, sowie der Industrie offen, um die Oberflächencharakterisierung auf ein neues Level zu heben und Lösungen für industrielle Probleme zu finden. Kontaktieren Sie uns, wenn Sie mehr über das große Potenzial dieser Technologie erfahren möchten.

Unsere Laborausstattung
Details zu LEIS
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