LABORAUSSTATTUNG
- AFM – Rasterkraftmikroskop
- Ausrüstung für Metallographie
- Elektrochemischer Meßplatz (mehrere Typen und Methoden)
- Elektronikarbeitsplatz (Labornetzteile, Oszilloskop, etc.)
- ELSA (Electrochemical Surface and Interface Analysis Cluster)
- FIB – Focused Ion Beam
- FTIR – Spektroskopie
- Galvanikanlagen
- GD-OES optische Glimmentladungsspektroskopie
- Glovebox
- Härteprüfung nach Vickers
- High-Performance-Workstation mit GPU für Machine Learning
- ICP-OES
- Kelvinsonde
- Klimakammer
- Kontaktwinkelmessgerät
- Laserpuller
- LEIS (Niedrigenergie-Ionenstreuungs Spektroskopie)
- Lichtmikroskopie, mit Kamerasystem (mehrere Typen)
- Massenspektrometer
- Mechanische Werkstätte mit Drehbank und Fräse
- Nanofiber Elektrospinner
- Nass-Strahlanlage
- PM-IRRAS
- Polarographie
- Stromquellen für Galvanik (gepulst und DC) (mehrere Typen)
- RAMAN – Spektroskopie
- REM – Rasterelektronenmikroskop (mit EDX)
- RFA – Röntgenfluoreszenanalyse
- Salzsprühkammer (mehrere Typen)
- UV/VIS – Spektroskopie
- XRD – Röntgendiffraktometrie